Navigacija

22D40 - Fizičko-hemijske metode karakterizacije površine

Specifikacija predmeta
Naziv Fizičko-hemijske metode karakterizacije površine
Akronim 22D40
Studijski program Metalurško inženjerstvo,Hemijsko inženjerstvo
Modul
Nastavnik (predavač)
Nastavnik/saradnik (vežbe)
    Nastavnik/saradnik (DON)
      Broj ESPB 6.0 Status predmeta izborni predmet
      Uslovljnost drugim predmetom Oblik uslovljenosti
      Ciljevi izučavanja predmeta Cilj predmeta je da studente upozna sa osnovama fizičkih i hemijskih principa u odabranim savremenim spektroskopskim i mikroskopskim metodama karakterizacije površine. Predmet je namenjen svim studentima koji se bave materijalima, jer će naučiti kako da odrede morfologiju površine, hemijski sastav i raspodelu elemenata i hemijskih grupa na površini, vrstu i jačinu hemijskih veza koje se uspostavljaju na granici faza, kao i funkcionalnim svojstvima površine. Takođe, cilj je da student stekne osnovna znanja gde se ove tehnike primenjuju (ispitivanje biomaterijala, polimernih, keramičkih i metalnih materijala, u katalizi, nanomaterijalima, u zaštiti, koroziji, tribologiji, farmaceutskom inženjerstvu, ......).
      Ishodi učenja (stečena znanja) Studenti su stekli osnovna teorijska saznanja o primeni savremenih tehnika u karakterizaciji površina. Naučili su da odaberu odgovarajuću metodu za karakterizaciju datog materijala, da obrade rezultate i lako se obuče za rad na određenom instrumentu i primene naučenu metodu.
      Sadržaj predmeta
      Sadržaj teorijske nastave • Uvod u analizu površine: površinska osetljivost i specifičnost površine • Rad u komorama visokog vakuuma, vrste vakuuma • Spektroskopske tehnike u karakterizaciji površina: osnove i primena. • XPS -fotoelektronska spektroskopija H-zraka (X-ray Photoelectron Spectroscopy). • AES – Ožeova elektronska spektroskopija (Auger Electron Spectroscopy). • UPS -ultraljubičasta fotoelektronska spektroskopija (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy). • LEIS- spektroskopija odbijenih jona plemenitog gasa niske energije (Low energy ion scattering). • LEED - difrakcija elektrona niske energije (Low Energy Electron Diffraction) • TPD -temperaturno programirana desorpcija (Temperature Programmed Techniques). • Sondna mikroskopija, osnove i primena. • AFM -mikroskopija atomskih sila (atomic force microscopy). • STM -skenirajuća tunelirajuća mikroskopija (scanning tunneling microscopy). • Primeri primene raznih metoda karakterizacije.
      Sadržaj praktične nastave
      Literatura
      1. J. Bajat, Fizičko-hemijske metode karakterizacije površine, Interna skripta, Beograd, 2020.
      2. Surface Analysis, The Principal Techniques, Ed. J.C.Vickerman, I.S.Gilmore, Whiley, 2009.
      3. Surface and Thin Film Analysis, Eds. H.Bubert, H.Jenett, Wiley-VCH, 2002.
      4. Handbook of Surface and Interface Analysis, Ed. J.C.Riviere, S.Myhra, CRS Press, 2009.
      5. R. Holze, Surface and Interface Analysis, Springer, 2009.
      Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine
      Predavanja Vežbe DON Studijski i istraživački rad Ostali časovi
      3
      Metode izvođenja nastave Predavanja, demonstracija rada AFM / STM, seminarski rad i konsultacije
      Ocena znanja (maksimalni broj poena 100)
      Predispitne obaveze Poena Završni ispit Poena
      Aktivnosti u toku predavanja Pismeni ispit
      Praktična nastava Usmeni ispit 70
      Projekti
      Kolokvijumi
      Seminari 30