Navigacija

14IIM33 - Metode karakterizacije materijala

Specifikacija predmeta
Naziv Metode karakterizacije materijala
Akronim 14IIM33
Studijski program svi
Modul
Nastavnik (predavač)
Nastavnik/saradnik (vežbe)
    Nastavnik/saradnik (DON)
      Broj ESPB 5.0 Status predmeta obavezan predmet
      Uslovljnost drugim predmetom Osnovi inženjerstva materijala Oblik uslovljenosti
      Ciljevi izučavanja predmeta Cilj ovog predmeta je da omogući studentima upoznavanje sa metodama karakterizacije keramičkih, metalnih i polimernih materijala, kao i sa najčešće korišćenim instrumentalnim metodama hemijske analize materijala. Cilj je takođe da se upoznaju sa metodama za praćenje strukturnih i mikrostukturnih promena koje se dešavaju tokom procesiranja ovih materijala.
      Ishodi učenja (stečena znanja) Predmet upoznaje studente sa osnovnim metodama karakterizacije keramičkih, metalnih i polimernih materijala i polaznih sirovina, odnosno jedinjenja za njihovu sintezu. U toku kursa studenti će raditi eksperimentalne vežbe iz oblasti karakterizacije materijala.
      Sadržaj predmeta
      Sadržaj teorijske nastave Uvod u metode karakterizacije materijala, Principi spektralne analize, UV VIS spektroskopija, Atomska apsorpciona spektroskopija, Indukovano spregnuta plazma, Transmisiona i refleksiona FTIR analiza materijala, Raman analiza materijala, Analiza materijala rendgenskom difrakcijom, Diferencijalno-termijska metoda karakterizacije materijala, Termogravimetrijska metoda karakterizacije materijala, Termomikroskopska metoda, Određivanje raspodele veličina čestica, Određivanje specifične površine, Određivanje raspodele veličina pora, Skenirajuća elektronska mikroskopija sa EDS-om, Transmisiona elektronska mikroskopija, AFM, Svetlosna mikroskopija.
      Sadržaj praktične nastave AAS analiza materijala, FTIR analiza materijala, Analiza materijala rendgenskom difrakcijom, Infracrvena spektroskopska analiza materijala, Termomikroskopska metoda, DTA i TGA karakterizacija, Određivanje raspodele veličina čestica, Određivanje specifične površine, Skenirajuća elektronska mikroskopija, EDS metoda karakterizacije, Transmisiona elektronska mikroskopija, AFM, Svetlosna mikroskopija, Kvantitativna mikrostrukturna analiza.
      Literatura
      1. Đ.Janaćković, interne skripte, TMF.
      2. Lj. Karanović, Primenjena kristalografija, Univerzitet u Beogradu, 1996.
      3. Ljiljana Kostić-Gvozdenović, Milica Todorović, Rada Petrović, Praktikum iz tehnologije keramike, TMF, Beograd, 2000.
      4. J. Mišović i T. Ast, Instrumentalne metode hemijske analize, TMF Beograd 1989.
      5. S. Milosavljević, Strukturne instrumentalne metode, BU, Hemijski fakultet Beograd 1997.
      Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine
      Predavanja Vežbe DON Studijski i istraživački rad Ostali časovi
      3 1
      Metode izvođenja nastave Predavanja, eksperimentalne vežbe.
      Ocena znanja (maksimalni broj poena 100)
      Predispitne obaveze Poena Završni ispit Poena
      Aktivnosti u toku predavanja 30 Pismeni ispit 70
      Praktična nastava Usmeni ispit
      Projekti
      Kolokvijumi
      Seminari