Navigacija

14MHKK11 - Nedestruktivna elementarna analiza

Specifikacija predmeta
Naziv Nedestruktivna elementarna analiza
Akronim 14MHKK11
Studijski program Hemijsko inženjerstvo
Modul
Nastavnik (predavač)
Nastavnik/saradnik (vežbe)
    Nastavnik/saradnik (DON)
      Broj ESPB 4.0 Status predmeta izborni predmet
      Uslovljnost drugim predmetom / Oblik uslovljenosti
      Ciljevi izučavanja predmeta Mogućnost primene nedestruktivne simultane analize pojedinačnih elemenata kao i njihovih oksida u različitom matriksu: čvrstom, tečnom i praškastom različitog porekla: industrijskog, metalurškog, geološkog, arheološkog, antropološkog, ekološkog (sediment, zemljište, voda, teški metali iz gasova kolektovani na filterima), biološkog, kao i u hrani, u rasponu od F-fluora (atomski broj 9) pa sve do U-uranijuma (atomski broj 90).
      Ishodi učenja (stečena znanja) Da studenti master studija savladaju i nauče novu nedestruktivnu tehniku merenja koja ima široku primenu u istraživanjima, proizvodnji, i kontroli procesa ispitivanjem čvrstih, tečnih, praškastih i uzoraka tankih prevlaka različitog matriksa.
      Sadržaj predmeta
      Sadržaj teorijske nastave Uvod u teoriju x-zraka. Svojstva x –zraka, poreklo i karakteristike njihove emisije. Borov atomski model. Interakcija x –zraka sa materijom. Fluoroscentna rendgenska spektroskopija. Naponska cev i primarni rengenski zrak. K i L orbitale kod ispitivanih elemenata. Fluoroscentna energija fotona. Detektori. Evaluacija spektara. Kvantifikacija i uticaji na granice detekcije makro i mikro elemenata. Uzorak: čvrste materije, tanki filmovi, prahovi. Tečnosti. Uticaj matriksa na merenja elemenata, grupisanje elemeneta u odnosu na uslove merenja (detektor, napon i struja lampe), granica detekcije.
      Sadržaj praktične nastave Kalibracija i obrada podataka u odnosu na standard za različitu vrstu uzorka: čvrst, tečan, praškast. Uzorkovanje, obrada i priprema uzoraka. ED-XRF analiza: nalaženje najpovoljnijih uslova merenja u zavisnosti od koncentracije oksida i pojedinačnih elemenata u stadardu a zatim u čvrstom, tečnom i praškastom uzorku, u zavisnosti od vrste uzorka i očekivane koncentracije ispitivanih elemenata i njihovih oksida. Čitanje dijagrama i analitička obrada dobijenih rezultata. Provera tačnosti merenja.
      Literatura
      1. M.S. Shackley (ed.), X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF) in Geoarchaeology, ; DOI 10.1007/978-1-4419-6886-9_2, Springer, LLC 2011. ;
      2. S. Billets XRF Technologies for Measuring Trace Elements in Soil and Sediment, USA, EPA, Washington, DC, 2006.
      3. Hans A. van Sprang, FUNDAMENTAL PARAMETER METHODS IN XRF SPECTROSCOPY, Eindhoven, The Netherlands, 2000.
      4. Sampling, storage and sample preparation procedures for X ray fluorescence analysis ; of environmental materials, IAEA-TECDOC-9SO, 1997 ;
      Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine
      Predavanja Vežbe DON Studijski i istraživački rad Ostali časovi
      2 2
      Metode izvođenja nastave Predavanja (PPT prezentacije), kolokvijum (jedan), domaći zadatak (jedan). Praktična nastava.
      Ocena znanja (maksimalni broj poena 100)
      Predispitne obaveze Poena Završni ispit Poena
      Aktivnosti u toku predavanja 5 Pismeni ispit 60
      Praktična nastava 10 Usmeni ispit
      Projekti
      Kolokvijumi 20
      Seminari 5