14IIM35 - Inženjerstvo površina materijala
| Specifikacija predmeta | ||||
|---|---|---|---|---|
| Naziv | Inženjerstvo površina materijala | |||
| Akronim | 14IIM35 | |||
| Studijski program | Inženjerstvo materijala | |||
| Modul | ||||
| Nastavnik (predavač) | ||||
| Nastavnik/saradnik (vežbe) | ||||
| Nastavnik/saradnik (DON) | ||||
| Broj ESPB | 3.0 | Status predmeta | izborni predmet | |
| Uslovljnost drugim predmetom | Opšta hemija I , Matematika I , Tehnička fizika I (za pohađanje ) ; Opšta hemija II , Tehnička fizika II (za polaganje) | Oblik uslovljenosti | ||
| Ciljevi izučavanja predmeta | Cilj predmeta je da studente upozna sa pojavama na graničnim površinama faza sa naglaskom na granicu čvrste površine sa gasovitom i tečnom fazom. Takođe, cilj je da student stekne osnovna znanja iz modifikacije površina primenom novih tehnologija, kao i da se upozna sa metodama formiranja nanomaterijala. Student treba da savlada osnove savremenih tehnika karakterizacije površine. | |||
| Ishodi učenja (stečena znanja) | Studenti su savladali specifičnosti graničnih površina i upoznali se sa različitim tehnikama taloženja tankih prevlaka u cilju modifikacije površine. Studenti su naučili da izaberu određen metod modifikacije površine radi poboljšanja željenih svojstava supstrata. Student je stekao osnovna teorijska saznanja o primeni savremenih tehnika u karakterizaciji površina. | |||
| Sadržaj predmeta | ||||
| Sadržaj teorijske nastave | • Površinske pojave (struktura i energetika granične površine faza) ; • Adsorpcija na čvrstim površinama (tipovi adsorpcije, kinetika adsorpcije i desorpcije, adsorpcione izoterme) ; • Hemijske reakcije na površinama (heterogena kataliza, uloga površine u heterogenoj katalizi) ; • Modifikacija površina (taloženje tankih prevlaka i oksidacija, hemijsko taloženje, elektrohemijsko taloženje, taloženje naparavanjem u vakuumu, taloženje uz pomoć plazme, fotohemijsko taloženje). ; • Adhezija ; • Sistemi sa razvijenom površinom (koloidni sistemi, nanomaterijali-postupci dobijanja) ; • Tehnike u karakterizaciji površina (XPS -fotoelektronska spektroskopija H-zraka, AES – Ožeova elektronska spektroskopija, UPS -ultraljubičasta fotoelektronska spektroskopija, TPD -temperaturno programirana desorpcija, AFM -mikroskopija atomskih sila , STM -skenirajuća tunelirajuća mikroskopija, XRD-difrakcija X-zraka) ; | |||
| Sadržaj praktične nastave | • Adsorpcija na čvrstoj površini. Analiza adsorpcionih izotermi ; • Demonstracija rada AFM / STM . Seminarski rad. ; • Demonstracija rada XRD. Seminarski rad. ; | |||
| Literatura | ||||
| ||||
| Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine | ||||
| Predavanja | Vežbe | DON | Studijski i istraživački rad | Ostali časovi |
| 2 | 1 | |||
| Metode izvođenja nastave | Predavanja, eksperimentalne vežbe, diskusije vezane za izradu i obradu eksperimentalnih vežbi, seminar i konsultacije ; | |||
| Ocena znanja (maksimalni broj poena 100) | ||||
| Predispitne obaveze | Poena | Završni ispit | Poena | |
| Aktivnosti u toku predavanja | Pismeni ispit | |||
| Praktična nastava | 40 | Usmeni ispit | 50 | |
| Projekti | ||||
| Kolokvijumi | ||||
| Seminari | 10 | |||