Navigacija

14IIM35 - Inženjerstvo površina materijala

Specifikacija predmeta
Naziv Inženjerstvo površina materijala
Akronim 14IIM35
Studijski program svi
Modul
Nastavnik (predavač)
Nastavnik/saradnik (vežbe)
    Nastavnik/saradnik (DON)
      Broj ESPB 3.0 Status predmeta izborni predmet
      Uslovljnost drugim predmetom Opšta hemija I , Matematika I , Tehnička fizika I (za pohađanje ) ; Opšta hemija II , Tehnička fizika II (za polaganje) Oblik uslovljenosti
      Ciljevi izučavanja predmeta Cilj predmeta je da studente upozna sa pojavama na graničnim površinama faza sa naglaskom na granicu čvrste površine sa gasovitom i tečnom fazom. Takođe, cilj je da student stekne osnovna znanja iz modifikacije površina primenom novih tehnologija, kao i da se upozna sa metodama formiranja nanomaterijala. Student treba da savlada osnove savremenih tehnika karakterizacije površine.
      Ishodi učenja (stečena znanja) Studenti su savladali specifičnosti graničnih površina i upoznali se sa različitim tehnikama taloženja tankih prevlaka u cilju modifikacije površine. Studenti su naučili da izaberu određen metod modifikacije površine radi poboljšanja željenih svojstava supstrata. Student je stekao osnovna teorijska saznanja o primeni savremenih tehnika u karakterizaciji površina.
      Sadržaj predmeta
      Sadržaj teorijske nastave • Površinske pojave (struktura i energetika granične površine faza) ; • Adsorpcija na čvrstim površinama (tipovi adsorpcije, kinetika adsorpcije i desorpcije, adsorpcione izoterme) ; • Hemijske reakcije na površinama (heterogena kataliza, uloga površine u heterogenoj katalizi) ; • Modifikacija površina (taloženje tankih prevlaka i oksidacija, hemijsko taloženje, elektrohemijsko taloženje, taloženje naparavanjem u vakuumu, taloženje uz pomoć plazme, fotohemijsko taloženje). ; • Adhezija ; • Sistemi sa razvijenom površinom (koloidni sistemi, nanomaterijali-postupci dobijanja) ; • Tehnike u karakterizaciji površina (XPS -fotoelektronska spektroskopija H-zraka, AES – Ožeova elektronska spektroskopija, UPS -ultraljubičasta fotoelektronska spektroskopija, TPD -temperaturno programirana desorpcija, AFM -mikroskopija atomskih sila , STM -skenirajuća tunelirajuća mikroskopija, XRD-difrakcija X-zraka) ;
      Sadržaj praktične nastave • Adsorpcija na čvrstoj površini. Analiza adsorpcionih izotermi ; • Demonstracija rada AFM / STM . Seminarski rad. ; • Demonstracija rada XRD. Seminarski rad. ;
      Literatura
      1. J. Bajat, Inženjerstvo površina materijala, Interna skripta, Beograd, 2013.
      Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine
      Predavanja Vežbe DON Studijski i istraživački rad Ostali časovi
      2 1
      Metode izvođenja nastave Predavanja, eksperimentalne vežbe, diskusije vezane za izradu i obradu eksperimentalnih vežbi, seminar i konsultacije ;
      Ocena znanja (maksimalni broj poena 100)
      Predispitne obaveze Poena Završni ispit Poena
      Aktivnosti u toku predavanja Pismeni ispit
      Praktična nastava 40 Usmeni ispit 50
      Projekti
      Kolokvijumi
      Seminari 10