22Д40 - Физичко-хемијске методе карактеризације површине
| Спецификација предмета | ||||
|---|---|---|---|---|
| Назив | Физичко-хемијске методе карактеризације површине | |||
| Акроним | 22Д40 | |||
| Студијски програм | Металуршко инжењерство,Хемијско инжењерство | |||
| Модул | ||||
| Наставник (предавач) | ||||
| Наставник/сарадник (вежбе) | ||||
| Наставник/сарадник (ДОН) | ||||
| Број ЕСПБ | 6.0 | Статус предмета | изборни предмет | |
| Условљност другим предметом | Облик условљености | |||
| Циљеви изучавања предмета | Циљ предмета је да студентe упозна са основама физичких и хемијских принципа у одабраним савременим спектроскопским и микроскопским методама карактеризације површине. Предмет је намењен свим студентима који се баве материјалима, јер ће научити како да одреде морфологију површине, хемијски састав и расподелу елемената и хемијских група на површини, врсту и јачину хемијских веза које се успостављају на граници фаза, као и функционалним својствима површине. Такође, циљ је да студент стекне основна знања где се ове технике примењују (испитивање биоматеријала, полимерних, керамичких и металних материјала, у катализи, наноматеријалима, у заштити, корозији, трибологији, фармацеутском инжењерству, ......). | |||
| Исходи учења (стечена знања) | Студенти су стекли основна теоријска сазнања о примени савремених техника у карактеризацији површина. Научили су да одаберу одговарајућу методу за карактеризацију датог материјала, да обраде резултате и лако се обуче за рад на одређеном инструменту и примене научену методу. | |||
| Садржај предмета | ||||
| Садржај теоријске наставе | • Увод у анализу површине: површинска осетљивост и специфичност површине • Рад у коморама високог вакуума, врсте вакуума • Спектроскопске технике у карактеризацији површина: основе и примена. • XPS -фотоелектронска спектроскопија Х-зрака (X-ray Photoelectron Spectroscopy). • AES – Ожеова електронска спектроскопија (Auger Electron Spectroscopy). • UPS -ултраљубичаста фотоелектронска спектроскопија (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy). • LEIS- спектроскопија одбијених јона племенитог гаса ниске енергије (Low energy ion scattering). • LEED - дифракција електрона ниске енергије (Low Energy Electron Diffraction) • TPD -температурно програмирана десорпција (Temperature Programmed Techniques). • Сондна микроскопија, основе и примена. • AFM -микроскопија атомских сила (atomic force microscopy). • STM -скенирајућа тунелирајућа микроскопија (scanning tunneling microscopy). • Примери примене разних метода карактеризације. | |||
| Садржај практичне наставе | ||||
| Литература | ||||
| ||||
| Број часова активне наставе недељно током семестра/триместра/године | ||||
| Предавања | Вежбе | ДОН | Студијски и истраживачки рад | Остали часови |
| 3 | ||||
| Методе извођења наставе | Предавања, демонстрација рада AFM / STM, семинарски рад и консултације | |||
| Оцена знања (максимални број поена 100) | ||||
| Предиспитне обавезе | Поена | Завршни испит | Поена | |
| Активности у току предавања | Писмени испит | |||
| Практична настава | Усмени испит | 70 | ||
| Пројекти | ||||
| Колоквијуми | ||||
| Семинари | 30 | |||